2019年10月23-25日，“2019年电子产品可靠性与质量管理学术年会”在中国厦门天鹅大酒店隆重召开。本次会议由四川省电子学会电子产品可靠性与质量管理专业委员会主办，中国工程物理研究院电子工程研究所和厦门大学航空航天学院联合承办，成都国光电气股份有限公司协办，《太赫兹与电子信息学报》为支持。
本届学术年会由中国工程物理研究院电子工程研究所总工程师、电子产品可靠性与质量管理专业委员会主任委员杨战平研究员担任。会议内容涉及可靠性设计分析与仿真、可靠性试验、可靠性评估、质量管理技术、安全性、测试性、保障性及故障诊断等可靠性领域，吸引了来自20余家单位的代表参会。
本次会议由专委会秘书长、中国工程物理研究院电子工程研究所副研究员锁斌主持。大会杨战平研究员代表主办单位和承办单位发表了热情洋溢的开幕词，他表示欢迎各位参会代表对大会的支持和鼓励，希望大家充分交流科学思想，探讨技术发展趋势，分享科学研究，集思广益学术观点，共同提高学术水平。
成都国光电气股份有限公司分公司副总经理任元国代表协办单位向大会致辞，他首先对会议主办、承办单位及会务组表示了感谢，简单介绍了国光公司的情况，希望利用这个平台促进电子产品可靠性事业的发展。
国防科技大学研究员刘冠军、四川大学教授罗阳、长虹首席可靠性技术专家彭海鑫先后作了题为《装备测试工程》、《人工智能在智能制造设备健康管理中的应用研究》、《敏捷可靠性工程原理、关键技术及工程框架》的特邀报告。与会代表对特邀专家的报告表现出浓厚的兴趣，现场提问环节十分踊跃。
工信部电子五所杨少华博士、九洲电器股份有限公司可靠性副总师王武高工、中国核动力研究设计院主任青先国研究员、厦门大学张保强博士、西南科技大学刘东副教授、电子科技大学闫理跃博士以及中国工程物理研究院电子工程研究所锁斌副研究员、胡斌副研究员等8位专家受邀做了大会专题报告。这些专题报告既有前沿的理论研究，又有典型的可靠性工程应用实例，引发了现场的热烈讨论。
会议从中优选出的13篇论文进行了现场交流。大会组成了评审组，评选出优秀论文一等1篇、优秀论文二等2篇、优秀论文三等3篇。大会杨战平研究员揭晓了获名单，并与众评委一起为获者颁。
最后，大会杨战平研究员进行了总结发言，香野春色提炼出了本次会议的两个“最”：气氛最活跃、交流最充分。他指出，此次会议为各位参会代表提供了一个高水平的交流平台和合作空间，会议期间各位专家思想碰撞激烈，积极讨论可靠性设计、分析、试验、评估等相关技术的工程应用，一定程度上推动了可靠性技术的应用发展。